面试问题记录
作者：互联网
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Congestion 问题怎么解决？
1、RTL阶段
一般是由大的MUX、大的Crossbar造成的，解决方法是将设计拆分，大模块分成小模块；
2、PR阶段
跟Congestion相关的主要包括以下几个部分：宏单元、标准单元、Power Mesh。
1、宏单元与宏单元之间
当相邻的两个Macro距离很近时，由其是Memory，多个Memory的数据线和地址线在狭窄的空间内无法找到足够的布线通道，通常会发生Congestion。
解决办法：调整Macro的位置、摆放方向，注意出Pin的方向，为出pin的区域留出足够的空间，避免产生狭窄的通道。另外当多个Memory共用相同的数据线或者地址线时，可以调整它们的位置，使它们的Pin对齐，这样连线会比较规整，对Congestion有帮助。
2、宏单元与标准单元之间
标准单元不能离宏单元太近，宏单元周围要放置Placement Blockage。由其注意Macro出Pin的方向一定要留出channel，否则Macro离std太近不容易出Pin。另外要注意之前摆放宏单元的规则，注意尽量靠近角、边，给中间的标准单元一个连续的区域。
3、标准单元与标准单元之间
可以分为两种情况：
3.1局部高密度标准单元引起的congestion
大量的绕线通过高密度标准单元区域时，有时候会发生局部的较为严重的congestion。
解决办法：为了解决局部congestion，我们通常会借助partialblockage降低局部区域的标准单元密度。Partial blockage是placement blockage的一种，是某一区域设定标准单元的利用率。有时候用partialblockage，并不能有效的解决congestion，这时候可以用blockage array来解决此类congestion。Blockage array是用“blockage阵列”的方式，控制congestion区域的标准单元的在区域内成条状分布：一方面降低了密度，另一方面预留出了布线通道。
3.2局部高密度pin cell导致的congestion
在数字逻辑设计中，如果某些模块用了大量的高密度pin标准单元（如AOI、OAI等），这些标准单元会有很多的互联关系，这样就会导致在有限的空间内，存在大量的绕线，从而发生congestion。
解决方案：
1）在逻辑综合中，禁用这些高密度pin的标准单元，这样综合出的网表中就不会有这些单元了，或者用DC的高级功能—DCG来解Congestion；
2）有针对性的降低此种标准单元的密度，如在ICC里，可以对这些标准单元设置keep_out_margin。通过此种方法，可以有效的削弱congestion；
3）对于层次性（Hier）设计而言，如果拥塞基本发生在某个模块内部，那么可以单独针对该模块设置Plangroup，并设置它的利用率，可以通过尝试找出既不会有太大Congestion，又不会太浪费面积的参数设置，如下图所示：
标签：标准单元,pin,记录,宏单元,Congestion,高密度,问题,面试,congestion 来源： https://www.cnblogs.com/wt-seu/p/12812651.html