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DFT 视频学习笔记
第一 introduction To DFT 第二 DFT architecture 第三 SOC scan implementation 第五scan practice 第六 ATPG 第七 ATPG PRACTIUCE 第八 ATPG practice2 第九 JTAG 第十 IEEE 第十一 IEEE 第十二 IEEE 1500 MBIST 第十三 MBIST 1 第十四 MBIST 2 第十五 final examATPG原理及实现——5.ATPG
Basic-Scan（优先使用） 速度极快，覆盖范围广，可进行全扫描 Fast-Sequential（如果有需要使用） 全扫描设计的覆盖范围更大； 适用于memory周围的阴影逻辑、有限的no--scan Full-Sequential（最后使用） 强大的引擎支持更复杂的设计 run_atpg -auto自动执行最好的结果 一、Basic-Scan VS. FasATPG原理及实现——4.Faults and Coverage
一、主要的fault分类 DT——Detected PT——Possibly Detected UD——Undetected AU——ATPG Untestable ND——Not Detected 使用set_faults -symmary verbose查看更详细的fault分类： ① DT——Detected DS（detected by simulation） DI（detected by implication） ② PT———Poatpg flow(tessent)
DFT Library DFT Library 的自动产生 libcomp <verilog_file> -dofile <file_name> Black Boxes add_black_box -auto black box所有没有被定义的module，该命令使用在setup模式中 ###自定义add SETUP> add_ black boxes -module core SETUP> ad