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基于ADS的简单射频电路调试

作者:互联网

基于ADS的简单射频调试讲解

前言

这份文档总结了我工作中调试4G射频模块(主要是匹配调试)的经验,同时使用ADS复现和分析调试中 出现的问题,总结经验。
总结如下:
1.Smith圆图调试的规则:上感下容,左并右串。
2.前端匹配电路(远离测试端口)调节阻抗收敛,后端匹配电路(靠近测试端口)调节阻抗位置
3.单一的L型匹配电路有死区,PI型电路调节更加全面。
4.后端匹配电路到测试端口的微带线会影响Smith圆图的判断。

4G模块简介

这次调试的是4G模块,一个简单的4G模块的射频电路部分如下:
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在ADS里面建立电路图如下:
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天线的信号通过Ant_Switch切换FDD和TDD通道,在FDD通过双工器(Diplexer)切换上下行信道,在TDD通过Switch1切换上下行信道;然后通过Tx_Switch和Rx_Switch切换FDD和TDD的通道同Ant_ Switch相对应。

建立ADS电路图

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建立了一个简单的PA前端到天线公共端的的射频电路,用于PA的调试。其中的Switch和Filter采用的是TDK的S参数模型。

原始参数条件下的Smith圆图和插损

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可以看到,在原始条件下,PA的输入端的阻抗是发散不收敛的,同时插损较高,也不平坦。这样的输入接入PA,得到的增益也是不平坦的,效率也不高。

添加匹配电路

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如图所示,添加L型匹配电路。

调整

修改前端匹配电路

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分别将C4从33pF改到0.6pF和将L4从27nH改到0.5nH,可以发现,smith圆图阻抗逐渐发散。

修改后端匹配电路

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分别将C3从33pF改到0.6pF和将L3从27nH改到0.5nH,可以发现,smith圆图的阻抗位置逐渐发生变化。

调整收敛

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如上图所示,前端匹配调整阻抗的收敛,后端匹配调整阻抗的位置,通过修改合适的电容电感值将S22的阻抗拉到合适的位置,并保证收敛。

L型匹配的电路的死区

电路如下
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保证收敛的条件下(前端电路不变),调整后端电路
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可以发现,无论怎么调整后端电路,都有一部分阻抗的位置是达不到的,这就是L型匹配电路的死区。将C5和L7互换位置,同样得到上图,只有将C5放到L7的后面才能够将阻抗挪到左半部分,这样电路图就要修改,实际就要重新打样电路板,保证批量生产。

Smith 圆图调试

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使用电容电感器件进行阻抗匹配,在史密斯图上的可以遵循下面四个规则:
1、沿着恒电阻圆顺时针走表示增加串联电感;
2、沿着恒电阻圆逆时针走表示增加串联电容;
3、沿着恒电导圆顺时针走表示增加并联电容;
4、沿着恒电导圆逆时针走表示增加并联电感。
通过圆图的阻抗匹配规则也能发现,单一的L型匹配电路是有死区的。

Π型匹配

50Ω匹配

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按照上图所示,通过PI型匹配可以将阻抗收敛到很小的范围,同时插损也很小,比较平坦。

35Ω+12I匹配

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按照上图所示,有时候根据需要,阻抗不一定在50Ω,同样可以通过PI型匹配将阻抗的位置拉到合适的位置。

Smith圆图调试“异常”

有时候根据Smith圆图调试也会出现问题,比如调试后端电路,进行阻抗位置的挪动的时候,会出现加电感阻抗位置向下挪的情况,加电容阻抗位置会向上挪的情况,与Smith圆图的规则相反。这并不是Smith圆图出错了,而是还有个情况没有考虑,那就是后端匹配电路到端口的微带线。50Ω的微带线虽然不会影响驻波,但是延长50Ω的微带线会使得整个阻抗绕等阻抗圆逆时针旋转。这样,本来加电感阻抗应该向上移动的,但是后面的微带线太长的情况下,绕等阻抗圆旋转半周后就看起来像是向下移动了。

图示

后端微带长度为0.12波长

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后端微带长度为0.4波长

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如上图所示,延长后端的微带线可以发现,阻抗挪到了下面,这样调试的时候就会发减小L4的电感值反而发现阻抗在向下挪动,与Smith圆图的规则相反,这就是因为后面延长的微带线又绕阻抗圆旋转了半圈,本来向上移动的阻抗点就变成向下挪动了。

总结

1.Smith圆图调试的规则:上感下容,左并右串。
2.前端匹配电路(远离测试端口)调节阻抗收敛,后端匹配电路(靠近测试端口)调节阻抗位置
3.单一的L型匹配电路有死区,PI型电路调节更加全面。
4.后端匹配电路到测试端口的微带线会影响Smith圆图的判断。

标签:匹配,ADS,Smith,圆图,电路,阻抗,调试,射频
来源: https://blog.csdn.net/qq_23176133/article/details/97610853