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GRR相关资料

作者:互联网

 

 

 ndc到底是什么含义?为了便于大家理解,我用下图表述ndc的含义,表示某测量系统可以把过程变差有效区分成5个组,即ndc=5。也就是过程变差包含测量系统的测量误差正态分布(GRR)的个数。在这儿,我强调一下此处的GRR的分布宽度不是六倍的GRR标准方差(σm),而是4.24倍的σm,具体推导过程我不在这儿展开,如果谁有兴趣,可以私信给我。


 

 

第三,ndc有什么用途呢?做过GRR的同事知道,要求ndc ≥ 5,为什么呢?我们会用控制图来监控过程,但如果测量系统的分辨率不足,当过程发生了偏移,但由于测量系统分辨率不足,测得的数据没能反映过程的偏移,那就失去了监控过程的意义了,所以ndc ≥ 5的要求就是为了保证控制图监控过程的有效性。当ndc=4时,测量系统的分辨率为1.5σ,ndc=3时,分辨率为2σ;ndc=2时,分辨率为3σ。我在讲“SPC还有用吗?”的时候,提到过均值-极差图的探测精度为1.5σ(过程变差),所以只有在ndc ≥ 5时,才能满足控制图探测精度的要求。当ndc<5时,测量系统不同用于控制过程,但仍然可以用于测量产品的合格与否,当过程能力较低时,会有很多误判,这一点一定要注意。

第四,ndc与GRR%又有什么关系呢?二者其实是一回事儿,它们有严格的数学函数关系。为了方便大家理解,我用图示的方法展示二者的关系,一定要注意,此处的GRR%指的是"GRR% TO TV", 如果是“GRR% TO Tolerance”情况就复杂一点,我们有机会再介绍。

 

 

 下面是GRR%与ndc的对应关系,GRR%=10%, ndc=14.1;GRR=20%时,ndc=6.9;GRR%=27.2%时,ndc=5; GRR%=30%时,ndc=4.5。

 

最后,我想强调一下,其实想成功地实施GRR, 是不容易的,最关键的是样件的选取,手册说样件要反映整个过程变差,理论上说起来容易,做起来很难的,我们有机会就具体的操作讨论一下。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

浅谈测量系统分析(MSA)(二):可区分类别数(ndc)”到底是什么?

AnYiming 0.12021.02.08 08:54:22字数 1,180阅读 12,030

在做测量系统分析时,有一个容易被大家忽略的指标,那就是“可区分类别数(Number of Distinct Categories)”,似乎也没有什么用,容易被人忽略,今天我们就讨论一下ndc的来龙去脉。

首先,在我展开ndc之前,我们有必要介绍一下分辨率(Resultion/Discrimination)的概念,大家都知道,我们一般要求测量设备的分辨率是公差或过程变差的1/10,即1:10 Rule,测量设备(仪器)的分辨率就是它的最小刻度或可靠读数。我在上次介绍测量系统分析提到,测量设备(仪器)只是测量系统的一个要素,也只是测量误差的一个来源,所以测量系统的分辨率要小于测量仪器的分辨率。测量系统的分辨率就是今天我们介绍的“可区分类别数(ndc)”。

第二,ndc的含义就是测量系统能够有效区分过程变差的组数,“有效区分”指的是不能把尺寸大的产品测得比尺寸小的产品还小。这一点理解很重要,否则就不能深刻理解ndc的概念了。我们对同一个产品的同一个特性进行多次测量,测量数据呈正态分布,这个正态分布的宽度可以理解成测量仪器的最小刻度,这一点应该容易理解,那么我们对两个产品(X1, X2, 且X2 > X1)同时进行多次测量,我们会得下图的两个正态分布。图中阴影部分就是由于重复性和再现性引起的测量混淆的区域,即把尺寸为X2产品测得比尺寸为X1的产品还小。

 

 

ndc到底是什么含义?为了便于大家理解,我用下图表述ndc的含义,表示某测量系统可以把过程变差有效区分成5个组,即ndc=5。也就是过程变差包含测量系统的测量误差正态分布(GRR)的个数。在这儿,我强调一下此处的GRR的分布宽度不是六倍的GRR标准方差(σm),而是4.24倍的σm,具体推导过程我不在这儿展开,如果谁有兴趣,可以私信给我。

 

 

第三,ndc有什么用途呢?做过GRR的同事知道,要求ndc ≥ 5,为什么呢?我们会用控制图来监控过程,但如果测量系统的分辨率不足,当过程发生了偏移,但由于测量系统分辨率不足,测得的数据没能反映过程的偏移,那就失去了监控过程的意义了,所以ndc ≥ 5的要求就是为了保证控制图监控过程的有效性。当ndc=4时,测量系统的分辨率为1.5σ,ndc=3时,分辨率为2σ;ndc=2时,分辨率为3σ。我在讲“SPC还有用吗?”的时候,提到过均值-极差图的探测精度为1.5σ(过程变差),所以只有在ndc ≥ 5时,才能满足控制图探测精度的要求。当ndc<5时,测量系统不同用于控制过程,但仍然可以用于测量产品的合格与否,当过程能力较低时,会有很多误判,这一点一定要注意。

第四,ndc与GRR%又有什么关系呢?二者其实是一回事儿,它们有严格的数学函数关系。为了方便大家理解,我用图示的方法展示二者的关系,一定要注意,此处的GRR%指的是"GRR% TO TV", 如果是“GRR% TO Tolerance”情况就复杂一点,我们有机会再介绍。

   

下面是GRR%与ndc的对应关系,GRR%=10%, ndc=14.1;GRR=20%时,ndc=6.9;GRR%=27.2%时,ndc=5; GRR%=30%时,ndc=4.5。

 

最后,我想强调一下,其实想成功地实施GRR, 是不容易的,最关键的是样件的选取,手册说样件要反映整个过程变差,理论上说起来容易,做起来很难的,我们有机会就具体的操作讨论一下。

标签:GRR,ndc,测量,GRR%,资料,相关,过程,分辨率
来源: https://www.cnblogs.com/QuincyYi/p/16543329.html