其他分享
首页 > 其他分享> > IC 测试小坑

IC 测试小坑

作者:互联网

1, IC测试时为适配某款玻璃,选择 把VGH电压分为 VGHO1_R ,VGHO1_L,VGHO2_R ,VGHO2_L。RD确认电压有一个使能EN控制。EN拉到VGL电压 -10 V。 控制开关VGH会切换到

  VGHO1_R ,VGHO1_L,VGHO2_R ,VGHO2_L。但是机台电压测试为13.59V或9.5V,7.5V等不稳定的状态。向RD确认,VGH经过一个diode,分给四个电源。VGH为14v左右,正确的测试电压

  应该为13.5V。但是测试不稳定原因有可能VGHO1_R ,VGHO1_L,VGHO2_R ,VGHO2_L,接了对地的1uF的电容,在充电的时候机台进行测试导致数据电压不稳定。

标签:VGH,电压,测试,VGHO2,IC,机台,VGHO1,小坑
来源: https://www.cnblogs.com/321waiting/p/15637350.html