国科大学习资料–VLSI测试与可测试设计–2020期末考试试题

国科大学习资料–VLSI测试与可测试设计–2020期末考试试题

国科大学习资料–VLSI测试与可测试设计–2020期末考试试题

一、概念题
1简述可测试性测度与两个主要的测度指标的含义；

2以March C-算法为例，说明March算法的构成，以及March C-算法的故障覆盖率；

3“效果-原因”诊断法和“原因效果诊断法”的不同；

4列举四条扫描设计时出现的问 题及解决办法；

5最少写出1149.1与1500的五点不同；

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二 求如下电路f-s-a-1与f-s-a-0的测试向量集，分别为T1和T2。

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三 对T1进行故障模拟，并给出被测故障集合

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四 题二中电路图有多少物理通路，多少时延通路

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五 求出e=0与f=0的静态逻辑蕴含，并指出该电路是否有冗余故障，如果有，请举例说明；若没有，也说明理由、

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六 给定测试数据TD= 0000 0110 0000 0000 0100 0000 0001 1100 0000 0100，将其划分成4-bit符号，建立一个完全的字典与哈夫曼编码的方法，分别给出压缩后的数据TD’,并计算压缩率

标签：0000,测试,VLSI,--,期末考试,2020,科大
来源： https://blog.csdn.net/weixin_44573410/article/details/120621604